pt200超声波涂层测厚仪***团队在线服务

pt200超声波涂层测厚仪

pt200超声波涂层测厚仪探头零点全自动校正；多种多样好用测量模式：规范测量模式，值测量模式，值测量模式，差值测量模式，均值测量模式，高温测量模式（配高温探头）；适用管件薄厚测量；个性化数据信息保存模式：可排序保存并可挑选一组保存信息量，不用保存每一个测量数据信息，简单化实际操作；超声波探伤方法按其原理可分为三类：脉冲反射法、穿透法和共振法。大空间数据储存：数据信息储存量达到2000组；合适测量灰铸铁等粗晶体原材料（需另购买专用型粗晶探头）。合适测量高温原材料，可到300度（需另购买专用型高温探头）。

感应原理测厚仪

磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的覆层愈厚磁通愈小。由于是电子仪器校准容易可以实多种功能扩大量程提由于测试条件可降低许多故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后仪器自动输出测试电流磁通的大小影响到感应电动势的大小仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示精度和重复性都不好后来发展了数字显示式电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关稳频等多种获专利的产品相继问世精度有了很大的提高达到1%,分辨率达到0.1μm磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯线圈电流的频率不高以降低涡流效应的影响测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化可以辨识不同的测头配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。一台仪器能配合多种测头也可以用同一台仪器。1、恰当选用测厚探头 （1）测曲面钢件时，选用曲面探头护线套或选用小管经专用探头（φ6毫米），可较的测量管路等曲面原材料。可以说适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。

超声波测厚，有几个边界条件：

1，介质的超声波声速在5900m/s上下；

2，只考虑超声波在介质中的散射衰减、且该衰减水平与普通碳钢（比如45#钢）相近；

3，仪器的电路结构所能给予换能器（也就是探头）的能量是有限的；

4，需要多个探头的交替使用才能覆盖全量程。

自超声测厚技术诞生至今，材料学和工艺学的发展丰富多彩，被测介质的声学特性也呈现出令人眼花缭乱的多样性，因此，在超声测厚技术的应用和超声测厚仪器的选择上，不能圉于传统的认知。

超声测厚仪器的研制、生产和应用，已历时百年、历经“五代”。

代仪器，采用的是“始脉冲——回波”技术。即，以“换能器的晶振片起始脉冲”和“次底面回波”的时间差为基础来计算厚度。国内的普通测厚仪基本上都是这种技术。

第二代仪器，采用的是“界面——回波”技术.

即，事先剔除脉冲信号从晶振片开始到被测物表面的时间；

这种技术的出现，其目的本来是为了剔除“晶振片到探头保护膜的距离”给测厚带来的误差，事实上，这个“距离”，与要测的厚度通常不在一个数量级上，因此，其适用性只在一个很窄的范围内才有意义。这种技术自本世纪初，在国外的仪器中开始有大量的应用，但作为一种“权宜之计”的过渡技术，很快被跨越，不到五年的时间，就让出了它的“优越地位”。pt200超声波涂层测厚仪技术应用按超声波脉冲反射原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作测量，也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。

第三代仪器，采用的是“回波——回波”技术。

即，以“次底面回波”和“第二次底面回波”的时间差为基础来计算厚度；这种技术，与“界面——回波”技术有相同的地方，即，都不用考虑“晶振片到探头保护膜的距离”带来的测量误差，但同样，只在小范围内才有适用意义。

这种技术得以应用，其更大意义在于：该技术改变了仪器的电路结构，使得仪器可以给换能器（探头）更大的能量、并能更好地分检回波信号，因此，应对“信号衰减”，采用这种技术的仪器比前两代仪器有了质的提升；铸铁件、奥氏体不锈钢不锈钢板钢因***不均匀或结晶粗大，超音波在这里在其中翻过时导致情况严重的散射衰减系数，被散射的超音波沿着复杂的相对路径散布，有可能使雷达回波吞没，导致不显示。也因此，“回波—回波”，成了迄今为止***超声波测厚仪共同的技术基础。

第四代仪器，采用的是“A扫描信号测厚”技术。

前面三代都是“读数型测厚仪”，不管读哪几次波，*终都是靠事先设定的程序由仪器来判定和计算的。而“A扫测厚仪”则是将所有的信号都显示在屏幕上，由操作者自行判断、并且可以计算任意两次波的时间差，也就是说，将测量的主动权交给了操作者，这对于分析型测厚、以及杂波信号较多的测厚非常有帮助；由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑，造成声波衰减，导致读数无规则变化，在极端情况下甚至无读数。

第五代仪器，采用的是单晶探头。

前面四代测厚仪，使用的都是双晶探头（只有在超薄件测厚中，才有专门的机型使用高频单晶探头），而双晶探头，由于晶振片排列的结构性因素，超声波的传递呈现出一个“V”型路径，这意味着，晶振片发射和接收信号的有效面积势必受到“V”路径的影响，也就是说，每个双晶探头的测厚范围受晶振片直径、晶振片斜角的影响较大。pt200超声波涂层测厚仪·穿越涂层测厚：无需清除被测物体表面的油漆,塑料等附着物即可测量基体厚度。