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pt200超声波涂层测厚仪

pt200超声波涂层测厚仪折射率试件的折射率对测量有影响，这类危害一直伴随着夹角的减少显著地增大。因而不可在试件超出容许的夹角的弯折表面测量。 粗糙度 基体金属何土壤层的粗糙度对测量有影响。表面粗糙度增大，危害增大。不光滑表层会造成系统偏差何偶然误差。每一次测量时，在不一样部位应该提升测量的频次，以摆脱这类偶然误差。假如基体金属不光滑，还务必在未的表面粗糙度相相近的基体金属试件上取好多个部位审校仪器设备的零点；或用沒有腐蚀的水溶液去除基体金属土壤层，再审校仪器设备的零点。

涂层测厚仪的分类以及测量原理

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关***和国际标准中称为覆层（coating）。

覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。涂层测厚仪适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用*广泛的测厚仪器。

采用无损方法既不***覆层也不***基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

pt200超声波涂层测厚仪1 .试件形变 2.表面粗糙度 常规金属材料和土壤层的表面粗糙度对测量有影响。表面粗糙度增加，危害增加。不光滑的表面会造成 系统偏差和出现意外偏差。在每一次测量期内，应增加不一样部位的测量频次，以摆脱该类出现意外偏差。 3.电磁场 各种各样周边电器设备造成的强磁场会比较严重影响磁法测厚。 4.粘附化学物质 5.探头测时工作压力 6.镀层膜厚仪（涂层测厚仪）探头方位 探头的部位会危害测量。测量时，探头应维持垂直平分试品表面。