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涂层测厚仪

涂层测厚仪在涂层测厚仪操作中，操作者经常会遇到的难点便是在同一个地域测量几次的数据信息一般 都不一样，或者是在测量整个过程中出現挺大偏差，对于很多初学者来讲，涂层测厚仪，测量操作愈来愈没法控制。有些人还会误以为是测量仪器设备严禁或者是仪器设备常见问题。事实上在绝大多数情况下，全是因为运用操作不当导致的测量误差，可以看出，适当运用涂层测厚仪在产品品质检测中是十分重要的。

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涂层测厚仪的分类以及测量原理

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关***和国际标准中称为覆层（coating）。

覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，涂层测厚仪的价格，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，涂层测厚仪RJTC-9000，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。涂层测厚仪适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用*广泛的测厚仪器。

采用无损方法既不***覆层也不***基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

涂层测厚仪涂层测厚仪NDT530能配F1和N一两种型号规格探头，分别是外接感应线圈探头和电涡旋探头，各自用以测量带磁金属材料基体上的非磁性涂层厚度、非铁制金属材料基体上的非导电性涂层的厚度，测量范畴均为0~1250μm，测量的像素为0.1微米。NDT530涂层测厚仪可选装多种多样探头，用以测量不一样的涂层厚度，具备持续测量和一次测量二种测量方法，立即he组合二种工作方式，具备数据储存作用，可储存一百个读值。

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